一、双光束分光光度计光源部分：
（1）故障：钨丝灯不亮。
原因：钨丝灯丝烧（这个原因是Zui高）。
检查：钨灯两端有工作电压，但灯不亮，取出钨灯用万用表电阻文件检测。
处置：更换新型钨丝灯；
（2）击穿：氘灯不亮；
原因：氘灯启动电路故障。
检查：在发光过程中，灯丝通常预热几秒钟，然后灯阳极和阴极会发光放电，如果灯在闪光开始时闪烁或连续闪烁，并且更换新的氘灯仍然一样，那么在发光中可能出现故障。电路，灯电流调整与大功率晶体管损坏的概率是Zui。
处置：专业人员需要修理。
二、双光束分光光度计信号部分：
（1）故障：没有检测信号输出。
原因：没有光束暴露于样品室。
检查：将波长设为530nm，将狭缝尽量开到嘴边，在黑暗环境下将白纸放在样品室的光窗出口处，观察白纸上是否有绿点图像。
处理：检查光源镜是否就位，双光束切割机是否转动（耳朵能听到电机转动的声音）；
（2）失败：在样品室中没有任何物质，基线噪声在整个波长范围内是大的。
原因：光源反射镜位置不正确，石英窗表面溅落在样品上。
检查：观察光源是否入射到入射狭缝的中心。石英窗上有污染物吗？
处理：重新调整光源反射镜的位置，用酒精清洗石英窗。
（3）失败：在样品室中没有任何物质，只有紫外区域的基线噪声较大。
原因：氘灯老化、光学系统镜面劣化、滤池结晶。
检查：可见光区域的基线比较平坦，关机后，打开单色仪和仪器上盖，用肉眼观察光栅和反射器的表面，覆盖一层白雾；如果光学系统正常，Zui可能很大。氘灯老化时，可通过能量检查判断或更换新的灯管方法；
处理：更换氘灯，用火棉胶粘贴镜面污垢，或用砂浆研磨过滤器（注：这项技术需要一些维护经验才能实施）；
（4）故障：样品室放置在空白处用于基线记忆。噪声很大，特别是在紫外区域。
原因：比色皿表面或内壁受到污染，玻璃比色皿或空白样品对紫外光谱的吸收太强，使放大器超出校正范围。
检查：将波长设为250nm，先为零，不带任何物体，然后将空色度盘插入样品通道一侧，吸光度值应小于0.07Abs；如果大于这个值，可能是色度盘不清洁或玻璃c不洁。使用比色盘，同样的方法也可以确定空白溶液的吸光度值；
处理：清洗试管，更换空白溶液。
（5）故障：吸光度值负值（ZUI通用）。
原因：无空白记忆，样品吸光度值小于空白参考液。
检查：需要更换参考液和样品液。
处置：空白内存，交换参考解决方案或使用参考液体配置样本溶液。
（6）故障：样本信号重现性差；
原因：除自身原因外，试样固溶不均匀的可能性较大；在简单的单光束仪器中，试样槽一般为推拉式，有时重复推拉不处于同一位置；
检查：更换一个稳定的样品；
处置：采用正确的样品配置方法，修复推拉式样品架的定位和接触珠。
（7）故障：当进行基线扫描或样本扫描时，基线或信号具有较大的负脉冲。
原因：扫描速度设定得太快，当读取信号时，滤波器或光源镜开关被误认为是信号读取；
检查：改变扫描速度；
（8）故障：当进行基线扫描或样本扫描时，基线或信号具有长的负值或全屏噪声；
原因：滤清器进给电机“失步”，造成档位错位，尤其是国产电机。
检查：可以恢复重启，或者打开单色器检查波长和滤光片的相对位置（注意：当单色器打开时，保护检测器免受强光刺激）；
处理：更换进给电机；
（9）失效：样品的峰值位置不正确。
原因：波长传递机构的位移。
检查：通过氘灯的65.1nm特征光谱判断波长是否准确。
处置：对于仪器，处理手段相对简单，利用仪器固有的自动校正功能即可；对于相对简单的仪器，这种调整需要专业人员来进行；
(10)故障：信号的分辨率不够，具体表现为：应叠加在小的峰值上不能观察到；
原因：狭缝太窄，扫描速度太快，导致探测器响应速度跟不上，从而失去被测信号；根据一般原理，一定狭缝宽度应与一定扫描速度范围相对应；或者狭缝太宽从而减小仪器分辨率，使小峰在大峰处融合。
检查：减慢扫描速度或缩小狭缝。
配置：综合扫描速度、狭缝宽度和时间常数三个条件，形成*化条件。
(11)故障：当双光束分光光度计的波长固定在某一波长时，吸光度信号上下摆动，特别是当测量模式转换为带有键开关的简单仪器时。
原因是开关触点的接触由于长期氧化而较差。
检查：当手的重量增加时，吸收值相应地改变。
处置：使用金属激活器清洁按键触摸。
（12）故障：2000。可见分光光度计的零点是不稳定的，这主要体现在简单的仪器上。
原因：在简单的2000可见分光光度计中，零点通常由电位器调整，电位器通常由碳膜电阻组成，并且经常导致接触不良。
处置：更换电位器；
另外，如果PC是连接紫外线的，同志们必须注意接口板不要意外损坏，必须关机后再插上。如果可见部分的稳定性不好，则可能是钨灯电源电压不稳定，一般钨灯电源是稳压电路。
全国服务热线：
